受激发射损耗显微技术（Stimulated Emission Depletion Microscope，STED）是一种高分辨显微镜技术，它通过结合激光的受激发射和损耗过程实现超高分辨成像。受激发射损耗显微镜可呈现突破衍射极限的结构细节，最小分辨率可达50nm以下，可用于观察纳米级的亚细胞结构和动态变化，具有超高分辨率、快速扫描、多色观察、活细胞监测、厚组织标本3D重建、共定位分析等优势，是现代医学和细胞生物学研究的理想工具。

    培训仪器：受激发射损耗显微镜（STED）

    培训内容：受激发射损耗显微镜的应用及样本制备

    培训时间：2023年10月12日（周四）

                 上午10:00-11:30  理论培训

                 下午14:00-16:00  上机培训&问题解答

    培训地点：唐仲英科技楼辅楼101会议室（理论培训）

                            B8-112（2）室（上机培训）

    联系电话：025-85811983

    上机培训报名方式：

    点击链接：https://www.wjx.cn/vm/OtwphE8.aspx#

    欢迎各位老师、同学参加。